IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOICRoHS / Konformität

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SN74BCT8240ADWR

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC

Serie
74BCT
Verpackung
Tape & Reel (TR)
Logic Type
Scan Test Device with Inverting Buffers
Teilestatus
Obsolete
Datenblatt (PDF)
RoHS-konform

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ParameterWert
KategorieSpecialty Logic
HerstellerTexas Instruments
Serie74BCT
VerpackungTape & Reel (TR)
Logic TypeScan Test Device with Inverting Buffers
TeilestatusObsolete
HerstellerTexas Instruments
MontageartSurface Mount
Number of Bits8
Paket / Fall24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Basisproduktnummer74BCT8240
Betriebstemperatur0°C ~ 70°C
Lieferanten-Gerätepaket24-SOIC
Gehäuse
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MSL
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