Embouts de sonde de test614 Produits
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| Image | Référence | Fabricant | Description | Disponibilité | Actions | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![]() PDF | CT4538-2 | Cal Test Electronics | DMM PROBE BODY, 1000V CAT IV, 2M | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | PACC-CD008 | Teledyne LeCroy | BENDING PIN GND 2/PC | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | 5682-2 | Pomona Electronics | ADAPTER EXTENDED TIP RED | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | A055 | TPI (Test Products Int) | SET STANLES STEEL TIP PROD THIN | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | PK007-005 | Teledyne LeCroy | SPRING TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | S25-512 | Harwin Inc. | SPRING PROBE SLEEVE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | CT2266-2 | Cal Test Electronics | PROBE BODY 2MM TIP RED | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | CT2665 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE SET - B/R | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | CT2388-0 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE - 4MM JACK, BL | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis |
Les embouts de sonde de test sont utilisés pour connecter le matériel de test au circuit, à la puce ou à la conception en cours d'essai. Souvent, l'élément se compose d'une tige cylindrique dont la tête est concave, convexe, en couronne, en forme de pince, en pointe ou en lame, ou munie d'une extrémité crochue. L'autre extrémité est généralement un fil conducteur. Les caractéristiques sont : type d'embout, type de connexion, longueur de l'embout, longueur totale, tension nominale et catégorie de câble (CAT I, CAT II, CAT III, CAT IV, IEC).




