Embouts de sonde de test135 Produits
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| Image | Référence | Fabricant | Description | Disponibilité | Actions | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![]() PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP075I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP100C09/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | R156S | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP075H05/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | R050W | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP100BB12/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP187I40/450G | Chip Shine / CSRF | 187MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() | TOP039S04/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PYRAMID 3 SIDE TIP | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis | |
![]() PDF | TOP156G40/500G | Chip Shine / CSRF | 156MIL ICT PROBE | En stock | MOQ : 1 Survoler pour devis |
Les embouts de sonde de test sont utilisés pour connecter le matériel de test au circuit, à la puce ou à la conception en cours d'essai. Souvent, l'élément se compose d'une tige cylindrique dont la tête est concave, convexe, en couronne, en forme de pince, en pointe ou en lame, ou munie d'une extrémité crochue. L'autre extrémité est généralement un fil conducteur. Les caractéristiques sont : type d'embout, type de connexion, longueur de l'embout, longueur totale, tension nominale et catégorie de câble (CAT I, CAT II, CAT III, CAT IV, IEC).









