IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOICRoHS / Conformité

Les images sont fournies à titre indicatif

SN74BCT8240ADWR

IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC

Série
74BCT
Emballage
Tape & Reel (TR)
Logic Type
Scan Test Device with Inverting Buffers
État de la pièce
Obsolete
Fiche technique (PDF)
Conforme RoHS

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Emballage professionnel

Emballage d'origine

Scellé usine, plateau ESD antistatique

Protection déshydratant

Carte indicateur d'humidité et gel de silice inclus

Scellage sous vide

Sac barrière d'humidité, rempli à l'azote

Emballage sécurisé

Mousse antivibration, étiquetage antichoc

ParamètreValeur
CatégorieSpecialty Logic
FabricantTexas Instruments
Série74BCT
EmballageTape & Reel (TR)
Logic TypeScan Test Device with Inverting Buffers
État de la pièceObsolete
FabricantTexas Instruments
Type de montageSurface Mount
Number of Bits8
Colis / Cas24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Numéro de produit de base74BCT8240
Température de fonctionnement0°C ~ 70°C
Paquet de dispositif du fournisseur24-SOIC
Boîtier
-
MSL
-

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