Prüfspitzen135 Produkte
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| Bild | Teilenummer | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Aktionen | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | TOP075I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | TOP100C09/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | R156S | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP075H05/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | R050W | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP100BB12/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | TOP187I40/450G | Chip Shine / CSRF | 187MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 | TOP039S04/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PYRAMID 3 SIDE TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | TOP156G40/500G | Chip Shine / CSRF | 156MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot |
Prüfspitzen werden verwendet, um Prüfgeräte mit der zu testenden Schaltung, dem Chip oder dem Design zu verbinden. Häufig besteht das Bauteil aus einem zylindrischen Stift mit einem Kopf, der konkav, konvex, mit einer Krone, mit einer Klemme, als Spitze oder Klinge oder mit einem Haken am Ende ausgeführt sein kann. Das andere Ende ist üblicherweise ein Drahtanschluss. Charakteristische Merkmale sind Spitzenart, Verbindungstyp, Spitzenlänge, Gesamtlänge, Spannungsbewertung und Kabelklassifizierung (CAT I, CAT II, CAT III, CAT IV, IEC).