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Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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| Parameter | Wert |
|---|---|
| Kategorie | Specialty Logic |
| Hersteller | Advanced Micro Devices |
| Serie | - |
| Verpackung | Bulk |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Teilestatus | Active |
| Hersteller | Advanced Micro Devices |
| Montageart | Through Hole |
| Number of Bits | 8 |
| Paket / Fall | 20-CDIP (0.300", 7.62mm) |
| Supply Voltage | 4.75V ~ 5.25V |
| Basisproduktnummer | AM2954 |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Lieferanten-Gerätepaket | 20-SBDIP |
Gehäuse
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MSL
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