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Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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Active
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Advanced Micro Devices
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| Parâmetro | Valor |
|---|---|
| Categoria | Specialty Logic |
| Fabricante | Advanced Micro Devices |
| Série | - |
| Embalagem | Bulk |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Status da peça | Active |
| Fabricante | Advanced Micro Devices |
| Tipo de montagem | Through Hole |
| Number of Bits | 8 |
| Pacote / Caso | 20-CDIP (0.300", 7.62mm) |
| Supply Voltage | 4.75V ~ 5.25V |
| Número do produto base | AM2954 |
| Temperatura de operação | 0°C ~ 70°C |
| Pacote de dispositivo do fornecedor | 20-SBDIP |
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