Prüfspitzen614 Produkte
Sortieren nach:
| Bild | Teilenummer | Hersteller | Beschreibung | Aktionen | |
|---|---|---|---|---|---|
 PDF | CT4538-2 | Cal Test Electronics | DMM PROBE BODY, 1000V CAT IV, 2M | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | PACC-CD008 | Teledyne LeCroy | BENDING PIN GND 2/PC | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | 5682-2 | Pomona Electronics | ADAPTER EXTENDED TIP RED | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | A055 | TPI (Test Products Int) | SET STANLES STEEL TIP PROD THIN | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | PK007-005 | Teledyne LeCroy | SPRING TIP | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | S25-512 | Harwin Inc. | SPRING PROBE SLEEVE | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | CT2266-2 | Cal Test Electronics | PROBE BODY 2MM TIP RED | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | CT2665 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE SET - B/R | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | CT2388-0 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE - 4MM JACK, BL | MOQ: 1 Hover für Angebot |
Prüfspitzen werden verwendet, um Prüfgeräte mit der zu testenden Schaltung, dem Chip oder dem Design zu verbinden. Häufig besteht das Bauteil aus einem zylindrischen Stift mit einem Kopf, der konkav, konvex, mit einer Krone, mit einer Klemme, als Spitze oder Klinge oder mit einem Haken am Ende ausgeführt sein kann. Das andere Ende ist üblicherweise ein Drahtanschluss. Charakteristische Merkmale sind Spitzenart, Verbindungstyp, Spitzenlänge, Gesamtlänge, Spannungsbewertung und Kabelklassifizierung (CAT I, CAT II, CAT III, CAT IV, IEC).