Prüfspitzen614 Produkte
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| Bild | Teilenummer | Hersteller | Beschreibung | Verfügbarkeit | Aktionen | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 PDF | CT4538-2 | Cal Test Electronics | DMM PROBE BODY, 1000V CAT IV, 2M | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
| TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | PACC-CD008 | Teledyne LeCroy | BENDING PIN GND 2/PC | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | 5682-2 | Pomona Electronics | ADAPTER EXTENDED TIP RED | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | A055 | TPI (Test Products Int) | SET STANLES STEEL TIP PROD THIN | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | PK007-005 | Teledyne LeCroy | SPRING TIP | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | S25-512 | Harwin Inc. | SPRING PROBE SLEEVE | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
PDF | CT2266-2 | Cal Test Electronics | PROBE BODY 2MM TIP RED | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | CT2665 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE SET - B/R | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot | |
 PDF | CT2388-0 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE - 4MM JACK, BL | Auf Lager | MOQ: 1 Hover für Angebot |
Prüfspitzen werden verwendet, um Prüfgeräte mit der zu testenden Schaltung, dem Chip oder dem Design zu verbinden. Häufig besteht das Bauteil aus einem zylindrischen Stift mit einem Kopf, der konkav, konvex, mit einer Krone, mit einer Klemme, als Spitze oder Klinge oder mit einem Haken am Ende ausgeführt sein kann. Das andere Ende ist üblicherweise ein Drahtanschluss. Charakteristische Merkmale sind Spitzenart, Verbindungstyp, Spitzenlänge, Gesamtlänge, Spannungsbewertung und Kabelklassifizierung (CAT I, CAT II, CAT III, CAT IV, IEC).