試験用プローブ先端614 製品
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| 画像 | 型番 | メーカー | 説明 | 在庫 | 操作 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![]() PDF | CT4538-2 | Cal Test Electronics | DMM PROBE BODY, 1000V CAT IV, 2M | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | PACC-CD008 | Teledyne LeCroy | BENDING PIN GND 2/PC | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | 5682-2 | Pomona Electronics | ADAPTER EXTENDED TIP RED | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | A055 | TPI (Test Products Int) | SET STANLES STEEL TIP PROD THIN | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | PK007-005 | Teledyne LeCroy | SPRING TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | S25-512 | Harwin Inc. | SPRING PROBE SLEEVE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | CT2266-2 | Cal Test Electronics | PROBE BODY 2MM TIP RED | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | CT2665 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE SET - B/R | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | CT2388-0 | Cal Test Electronics | SPG TIP MINIPROBE - 4MM JACK, BL | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 |
試験用プローブ先端は、テスト機器を被試験の回路・チップ・設計に接続するために使用されます。多くの場合、この装置は円筒状の棒に、凹型、凸型、クラウン、クランプ、尖った先端やブレード、またはフック状の端を持つヘッドが付いた構造になっています。反対側は通常ワイヤーリードになっています。特性としては、先端の種類、接続方式、先端長、全長、定格電圧、およびケーブル規格(CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC)があります。




