試験用プローブ先端
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP100I064/200GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP100I064/100GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP100A15/200GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP075C064/200GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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125MIL ICT PROBE
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TOP125H25/250GChip Shine / CSRF125MIL ICT PROBE
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39MIL ICT  PROBE
TOP039I052/100G-L36.62Chip Shine / CSRF39MIL ICT PROBE
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125MIL ICT PROBE
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TOP125F17/400GChip Shine / CSRF125MIL ICT PROBE
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39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP
TOP039WN040/100G-L33.5Chip Shine / CSRF39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP
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39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP
TOP039H04/100G-L36.62Chip Shine / CSRF39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP
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125MIL ICT PROBE
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TOP125C17/300GChip Shine / CSRF125MIL ICT PROBE
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125MIL ICT PROBE
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TOP125I17/250GChip Shine / CSRF125MIL ICT PROBE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP075I064/200GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP100C09/200GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT TEST PROBE RECEPTACLE
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R156SChip Shine / CSRFICT TEST PROBE RECEPTACLE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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TOP075H05/280GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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ICT TEST PROBE RECEPTACLE
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R050WChip Shine / CSRFICT TEST PROBE RECEPTACLE
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ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
TOP100BB12/280GChip Shine / CSRFICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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187MIL ICT PROBE
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TOP187I40/450GChip Shine / CSRF187MIL ICT PROBE
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39MIL ICT PYRAMID 3 SIDE TIP
TOP039S04/100G-L33.5Chip Shine / CSRF39MIL ICT PYRAMID 3 SIDE TIP
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156MIL ICT PROBE
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TOP156G40/500GChip Shine / CSRF156MIL ICT PROBE
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試験用プローブ先端は、テスト機器を被試験の回路・チップ・設計に接続するために使用されます。多くの場合、この装置は円筒状の棒に、凹型、凸型、クラウン、クランプ、尖った先端やブレード、またはフック状の端を持つヘッドが付いた構造になっています。反対側は通常ワイヤーリードになっています。特性としては、先端の種類、接続方式、先端長、全長、定格電圧、およびケーブル規格(CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC)があります。