試験用プローブ先端135 製品
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| 画像 | 型番 | メーカー | 説明 | 在庫 | 操作 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
![]() PDF | TOP100I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100I064/100G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100A15/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP075C064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125H25/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039I052/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125F17/400G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039WN040/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039H04/100G-L36.62 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT 4 POINT CROWN TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125C17/300G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP125I17/250G | Chip Shine / CSRF | 125MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP075I064/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP100C09/200G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | R156S | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP075H05/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | R050W | Chip Shine / CSRF | ICT TEST PROBE RECEPTACLE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP100BB12/280G | Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP187I40/450G | Chip Shine / CSRF | 187MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() | TOP039S04/100G-L33.5 | Chip Shine / CSRF | 39MIL ICT PYRAMID 3 SIDE TIP | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 | |
![]() PDF | TOP156G40/500G | Chip Shine / CSRF | 156MIL ICT PROBE | 在庫あり | 最小注文: 1 ホバーで見積 |
試験用プローブ先端は、テスト機器を被試験の回路・チップ・設計に接続するために使用されます。多くの場合、この装置は円筒状の棒に、凹型、凸型、クラウン、クランプ、尖った先端やブレード、またはフック状の端を持つヘッドが付いた構造になっています。反対側は通常ワイヤーリードになっています。特性としては、先端の種類、接続方式、先端長、全長、定格電圧、およびケーブル規格(CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC)があります。









