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Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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| パラメータ | 値 |
|---|---|
| カテゴリ | Specialty Logic |
| メーカー | Advanced Micro Devices |
| シリーズ | - |
| 包装 | Bulk |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 部品の状態 | Active |
| 製造業者 | Advanced Micro Devices |
| 取り付けタイプ | Through Hole |
| Number of Bits | 8 |
| パッケージ / ケース | 20-CDIP (0.300", 7.62mm) |
| Supply Voltage | 4.75V ~ 5.25V |
| 基本製品番号 | AM2954 |
| 動作温度 | 0°C ~ 70°C |
| サプライヤーデバイスタイプ | 20-SBDIP |
パッケージ
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MSL
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